業界ニュース なぜTSMCだけEUVプロセスで高い歩留まりを達成できるのか?2020 / 8 / 112020/08/07 TSMCは、EUVリソグラフィ(EUVL)工程で使用されるEUVマスク上に付着したパーティクル(異物微粒子)の除去に、従来の薬液や純水を大量に使うウエット洗浄プロセスから、より環境にやさしい「ドライクリーン技術(Dry-Clean… https://ljdevice.com.tw/wp-content/uploads/2020/08/7.jpg 630 1200 patrickhuang https://ljdevice.com.tw/wp-content/uploads/2017/03/logo.png patrickhuang2020-08-11 14:56:182020-08-11 14:56:18なぜTSMCだけEUVプロセスで高い歩留まりを達成できるのか?